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岩田 博之 (イワタ ヒロユキ,IWATA Hiroyuki)

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書籍等出版物
No.タイトル, 著者, 出版社, 出版年月, ID:ISBN, URL 
1
電気回路Ⅰ及び演習, 森正和, 岩田博之, 名大生協印刷部, 2014年09月, ,  

 

論文
No.タイトル, 著者, 誌名, 巻( 号), 開始ページ- 終了ページ, 出版年月, ID:DOI, URL 
1
Hiroyuki Iwata, Daisuke Kawaguchi; Hiroyasu Saka, Crystal structures of high-pressure phases formed in Si by laser irradiation,, 岩田博之, Microscopy , 67,  30- 36, 2018年, ,  
2
Thermal stability of laser-induced modified volumes in Si as studied by in situ and ex situ heating experiments, Microscopy,, Hiroyasu Saka, Hiroyuki Iwata, Daisuke Kawaguchi ,  Microscopy , 67 ,  112- 120, 2018年, ,  
3
Electron microscopy of voids in Si formed by permeable pulse laser irradiation,, Hiroyuki Iwata, Daisuke Kawaguchi, Hiroyasu Saka, , Microscopy, 66,  328- 336, 2017年, ,  
4
Annealing effect on threading dislocations in a GaN grown on Si substrate, H. Iwata, H. Kobayashi, T. Kamiya, R. Kamei, H. Saka, N. Sawaki, M. Irie, Y. Honda, H. Amano , Journal of Crystal Growth, 468, pp.835-838, 2017, 468,  835- 838, 2017年, ,  
5
Resolving individual Shockley partials of a dissociated dislocation by STEM,, Hiroyuki Iwata, Hiroyasu Saka, , Philosophical magazine letters, , 97, ,  74- 81, 2017年, ,  
6
Temperature dependence of the stacking fault energy of glide set-dissociated dislocations in Si,, Hiroyuki Iwata, Muneharu Kutsuna, Tomoko Okuno, Hiroyasu Saka, , Philosophical magazine letters, , 96, ,  265- 272, 2016年, ,  
7
シリコン単結晶間のマイクロトライボロジー, 高木誠, 水流一平, 岩田博之, 坂公恭, 日本金属学会誌、79巻pp504-510, ,   , 2015年07月, ,  
8
水中レーザピーニングによってSi 中に形成された欠陥組織の透過電子顕微鏡観察・, 岩田博之, 沓名宗春, 坂公恭, 日本金属学会誌、第79巻、pp308-314, ,   , 2015年04月, ,  
9
岩田博之,沓名宗春,坂公恭,水中レーザピーニングによってSi 中に形成された欠陥組織の透過電子顕微鏡観察, 岩田博之, 日本金属学会誌, 79,  308- 314, 2015年, ,  
10
イオン注入に立脚した難加工性材料の超精密剥離技術の開発, 岩田博之, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第16号、pp.19-22., ,   , 2014年09月, ,  
11
原子間力顕微鏡(AFM)と透過型電子顕微鏡(TEM)を用いたシリコン単結晶のマイクロ摩耗プロセスの解明, 高木 誠, 松室 昭仁, 岩田 博之, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第15号、pp.67-71., ,   , 2013年09月, ,  
12
Si 基板上に成長した半極性GaNの欠陥構造評価, 澤木 宣彦, 中北 太平, 伊藤 翔梧, 岩田 博之, 谷川 智之, 本田 善央, 山口 雅史,天野 浩, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第15号、pp.27-30., ,   , 2013年09月, ,  
13
シリコン基板上GaNの高分解TEM観察, 澤木 宣彦, 岩田 博之, 川北 将吾, 本田 善央, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第14号、pp.23-26. , ,   , 2012年09月, ,  
14
原子的構造解析システムの現状と課題(II), 岩田 博之, 高木 誠, 平野 正典, 山田 英介, 渡辺 藤雄, 落合 鎮康, 澤木 宣彦, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第14号、pp.15-18. , ,   , 2012年09月, ,  
15
シリコン基板上窒化物半導体の高品質化に関する研究, 澤木 宣彦, 岩田 博之, 川北 将吾, 本田 善央, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第13号、pp.69-71., ,   , 2011年09月, ,  
16
カーボンナノチューブを用いた高アスペクト比ナノ加工とTEM内その場観察による加工原理の解明, 高木 誠, 松室 昭仁, 岩田 博之, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第13号、pp.69-72., ,   , 2011年09月, ,  
17
SPMを用いたSi単結晶のナノ加工と表面の構造変化, 高木 誠, 松室 昭仁, 岩田 博之,, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第12号、pp.63-67., ,   , 2010年09月, ,  
18
Effect of Impurity Co-implantation on Hydrogen Surface Blistering , H.Iwata, M.Takagi, Y.Tokuda, International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, Vol.1, pp262-263 , ,   , 2008年06月, ,  
19
TEM and HRTEM Observations of Microstructural Change of Silicon Single Crystal Scratched under Very Small Loading Forces by AFM, , Makoto Takagi, Kenji Onodera, Akihito Matsumuro, Hiroyuki Iwata, Katsuhiro Sasaki and Hiroyasu Saka, Materials Transactions, 49-6, pp1298-1302, ,   , 2008年05月, ,  
20
SPMを用いたSi単結晶のナノ加工と表面の構造変化, 吉田浩也, 松室昭仁, 岩田博之, 高木誠, 精密工学会誌, Vol.73, No.10, pp.1149-1153, ,   , 2007年10月, ,  
21
極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発, 岩田博之, 奥田東, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第9号、pp.47-52. , ,   , 2007年08月, ,  
22
RBS/Cを用いた水素イオン注入欠陥の評価、, 岩田博之, 清水孝延, 横井久人, 石神龍哉, 伊藤慶文, 徳田豊, 高木誠, 愛知工業大学総合技術研究所総合報告、第8号、pp.77-80. , ,   , 2006年06月, ,  
23
Tensile property of an Al-11 mass%Si alloy at elevated temperatures processed by rotary-die equal-channel angular pressing, , Aibin Ma, Makoto Takagi, Naobumi Saito, Hiroyuki Iwata, Yoshinori Nishida, Kazutaka Suzuki, Ichinori Shigematsu, Material Science and Engineering, A408 pp.147-153, , ,   , 2005年10月, ,  
24
Impact toughness of an ingot hypereutectic Al-23 mass% Si alloy improved by rotary-die equal-channel angular pressing, , Aibin Ma, Kazutaka Suzuki, Naobumi Saito, Yoshinori Nishida, Makoto Takagi, Ichinose Shigematsu, Hiroyuki Iwata, Material Science and Engineering, A399 pp.181-189,, ,   , 2005年07月, ,  

 

講演・口頭発表等
No.タイトル, 講演者, 会議名, 開催地, 開催年月日, 主催者 
1
レーザピーニングされた半導体結晶の構造評価, 岩田博之, 沓名宗春, 坂公恭, 日本顕微鏡学会第71回講演会,国立京都国際会館,顕微鏡 50(2015), supplement1, 207, , , 2015年05月,  
2
Defects and Surface Modifications in Nano-Fabrication Technique Using the Combination of High Dose Ion Implantation and Localized Heating, Hiroyuki Iwata, Hiroyasu Saka, Makoto Takagi, Yutaka Tokuda,, 6th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials, C1-P-67, , 2015年03月,  
3
「経年金相学—鈴木効果再訪—」, 坂公恭, 岩田博之, 2014 年度金属学会秋期大会名古屋大 学、534, , 2014年09月,  
4
「室温における Si 単結晶の疲労」, 倉田和也, 高木誠, 岩田博之, 日影達夫, 坂公恭, 2014 年度 金属学会秋期大会、名古屋大学、518 (2014.9), , 2014年09月,  
5
「Si 単結晶のマイクロトライボロジー」, 水流一平, 高木誠, 岩田博之, 坂公恭, 2014 年度金属学 会秋期大会、名古屋大学、519 , , 2014年09月,  
6
「種々の環境下における Si 単結晶のマイ クロトライボロジー」, 水流一平, 高木誠, 松室昭仁, 岩田博之, 坂公恭, 、2014 年度精密工学会春期大会学術講演会、東京大学、pp.921-922, , 2014年03月,  
7
「Si 単結晶の曲げおよび疲労挙動」, 倉田和也, 高木誠, 松室昭仁, 岩田博之, 坂公恭 ,  2014 年度精密工学会春期大会学術講演会、東京大学、pp.355-336, , 2014年03月,  
8
Effect of FIB Assisted Hydrogen Blistering and Exfoliation, , Hiroyuki Iwata, Makoto Takagi, Yutaka Tokuda,, 4th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials, p.100, , 2012年03月,  
9
Increasing method of Hydrogen Exfoliation Area on the Surface of Silicon , Hiroyuki Iwata, Makoto Takagi, Yutaka Tokuda,, International Symposium onRole of Electron Microscopy in Industry, p.12, Nagoya, , 2012年01月,  

 

外部資金導入
No.タイトル, 提供機関, 制度名, 研究期間, 代表者 
1
表面精密剥離技術の開発, (財)科学技術交流財団, ,  2010年 - 2012年,  
2
半導体表面の水素ブリスタリングの動的特性解明とナノ加工への応用, 学術振興会, ,  2005年 - 2008年,  

 

連携可能な研究テーマ
No.タイトル, 年月 
1
電子顕微鏡等を用いたデバイス評価およびその場観察を主体とする関連評価手法の開発,  1989年07月01日 - 現在